考察

　　　　SNOM/AFMによって、蛍光染色試料の表面形状と蛍光強度の同時観察が容易に可能になった。オオムギ染色体においては、表面形状（高さ）と蛍光強度の強弱が一致しないことがわかった。例えば、セントロメア付近は立体的に低いが、蛍光強度は強かった。また、メチルグリーンによるバンド処理をした染色体の蛍光強度の強い部分が形状的に高い部分に必ずしも相当しなかった。蛍光色素とDNAとの結合性など染色体の高次構造との間に何らかの関係があることを考慮する必要があるが、バンド処理により、GC-richの部分の蛍光強度が強いのではないかと考えられ、DNAが高度に凝集されている可能性が示唆された。
　　　　また、DNAに関しては、これまで困難とされてきた光の波長以下の観察が可能となり、ナノスケールでの特定遺伝子マッピングの可視化の可能性が示された。

今後の予定

　　　AFMと比較すると、SNOM/AFM観察による形状像は十分な分解能が得られておらず、細密な検討が難しいため、今後、分解能の向上の検討をする予定である。

謝辞

　　この研究は、生物系特定産業技術推進機構（生研機構）の「ナノFISH法の開発」および文部科学省の「染色体の構造と機能解明のためのナノデバイスに関する総合研究」の一環として行われたものである。

主な参考文献

　　 Yoshino, T., Sugiyama, S., Hagiwara, S., Ushiki T. and Ohtani, T., Simultaneous collection of topographic and fluorescent images of barley chromosomes by scanning near-field optical/atomic force microscopy, Journal of Electron Microscopy, in press, (Vol. 51 No. 3 (June, 2002)).

Nakao, H., Sugiyama, S., Yoshino T. and Ohtani,T., Development of novel polymer-coated substrates for straightening and fixing DNA, Nano lett.,in press, (Vol. 2 No. 5 (May, 2002)).

吉野智之, 劉新旗, 杉山滋, 大谷敏郎, AFMによる染色体構造観察に対する前処理法の影響, 日本電子顕微鏡学会第57回学術講演会, 2001.5.10-12, 電子顕微鏡,, 36, Suppl. 1, p. 70.

Yoshino, T., Liu, X., Sugiyama, S. and Ohtani, T., AFM Imaging of Chromosome Surface Structure Chenges in Nano Meter Scale Effected by Preparations, STM' 01, 2001, 7.15-20, Technical Program & Abstracts, p. 193.

Yoshino, T., Sugiyama, S., Hagiwara, S., Ushiki T. and Ohtani, T., Observations of Barley Chromosomes by Scanning Near-field Optical/Atomic Force Microscopy, 7th International Symposium on Advanced Physical Fields, 2001. 11.12-15, Proceedings, 185-188.

プレスリリース, 2001.3.13, 「遺伝子が見えた！」－　ナノレベルで世界初、新型顕微鏡でDNAの直接観察が可能に－走査型光プローブ原子間力顕微鏡(SNOM/AFM)によるDNAの直接解析.

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